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Reliable Mixed-signal Systems


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L'équipe RMS a une expertise reconnu dans le domaine des systèmes et circuits intégrés analogiques/mixtes (AMS) et radiofréquence (RF), avec un accent spécifique sur les techniques de test / de contrôle embarqués et les outils de CAO associés. Ceci est particulièrement important pour les systèmes hautement intégrés, notamment les systèmes sur puce à signaux mixte (AMS SoC) qui sont utilisés aujourd'hui dans la plupart des applications de la société de l'information. Les techniques que nous développons visent à réduire les coûts de test de production, à augmenter le rendement de production, à améliorer la qualité, la fiabilité et la robustesse. Nos activités couvrent trois axes de recherche scientifique; "conception en vue du test de système analogique / mixte /RF", "Test assistée par ordinateur (TAO)'' et ''contrôle embarqué des systèmes hétérogènes AMS et RF " y compris la modélisation de systèmes hétérogènes à différents niveaux d'abstraction. Notre expertise dans ce domaine nous permet d'obtenir des résultats qui ne sont pas seulement un pionnier et considérés comme l'état de l'art dans le domaine de recherche, mais font aussi l'objet d'exploitation industrielle. La pertinence nos travaux de recherche et la qualité des résultats obtenus sont confirmées par des prix de meilleur papier obtenus dans les grandes conférences internationales dans chacun des trois axes de recherche au cours des dernières années. Notre équipe est impliquée dans divers projets de recherche et de développement nationaux et européens et a initié des collaborations durables avec de nombreuses universités étrangères.

Responsable d'équipe

SIMEU Emmanuel

Dernières publications

Barragan M., Alhakim R., Stratigopoulos H., Dubois M., Mir S., Le-Gall H., Bhargava N., Bal A., A Fully-Digital BIST Wrapper Based on Ternary Test Stimuli for the Dynamic Test of a 40 nm CMOS 18-bit Stereo Audio Sigma-Delta ADC, IEEE Transactions on Circuits and Systems, Ed. IEEE, Vol. 63, No. 11, pp. 1876-1888, DOI: 10.1109/TCSI.2016.2602387, 2016
 
Renaud G., Barragan M., Laraba A., Stratigopoulos H., Mir S., Le-Gall H., Naudet H., A 65nm CMOS Ramp Generator Design and its Application Towards a BIST Implementation of the Reduced-Code Static Linearity Test Technique for Pipeline ADCs, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Ed. Springer , Vol. 32, No. 4, pp. 407-421, DOI: 10.1007/s10836-016-5599-8, 2016
 
Leger G., Barragan M., Brownian distance correlation-directed search: A fast feature selection technique for alternate test, Integration, the VLSI Journal, Ed. Elsevier, Vol. , 2016
 
Barragan M., Stratigopoulos H., Mir S., Le-Gall H., Bhargava N., Bal A., Practical Simulation Flow for Evaluating Analog and Mixed-Signal Test Techniques, IEEE Design & Test, Ed. IEEE, Vol. 33, No. 6, pp. 46-54, DOI: 10.1109/MDAT.2016.2590985, 2016
 
Pastorelli C., Design of an analog-digital converter based on a piecewise linear ramp for image sensor with calibration techniques, These de Doctorat, 2016
 
Rapport annuel d'activité