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Conferences


2ème Journées nationales sur la récupération et le stockage d'énergie pour l'alimentation des microsystèmes autonomes

Venue: Amphi C – Grenoble INP 46 Avenue Félix Viallet 38041 Grenoble Cedex, FRANCE
Date: 26 et 27 Mars 2012
Organizer: S. BASROUR

Summary: Cette manifestation a pour objectif d’offrir une vision globale de ce domaine de recherche et de créer un lieu d'échange pour la communauté française travaillant sur la récupération d'énergie et son stockage dans le domaine des microsystèmes autonomes.
Au cours de ces 2 journées, des chercheurs confirmés français et européens présenteront un état de l’art dans leurs domaines d’activité. Les doctorants et post-docs auront aussi la possibilité d’exposer leurs résultats de recherche par des présentations orales ou par des posters.

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FETCH2012 : Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des Systèmes embarqués Hétérogènes

FETCH
Venue: Hôtel Le Pic Blanc Alpe d'Huez, France, FRANCE
Date: 9-11 janvier 2012
General chair: D. BORRIONE

Summary: La maîtrise de l'hétérogénéité des systèmes embarqués par des technologies de conception efficaces est un défi incontournable pour les années à venir. Pour suivre et anticiper l'émergence de nouvelles techniques de modélisation, de validation et de synthèse de ces systèmes, FETCH 2012 vise à réunir et à croiser les expertises portant sur ces diverses facettes. C'est un évènement annuel unique en son genre pour scientifiques et professionnels souhaitant partager et échanger les connaissances les plus récentes dans ces domaines.

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Final SoCKET Workshop

SoCKET
Venue: IRIT, Campus de Rangueil - Toulouse, France, FRANCE
Date: November 23-24, 2011

Summary: After a first intermediate workshop in Grenoble in October 2010, the SoCKET project organizes its final workshop.

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International On-Line Testing Symposium

IOLTS
Venue: Athens, GREECE
Date: July 13-15, 2011
Organizer: M. NICOLAIDIS
Co-organizer: A. PASCHALIS

Summary: Issues related to on-line testing are increasingly important in modern electronic systems. In particular, the huge complexity of electronic systems has led to growth in reliability needs in several application domains as well as pressure for low cost products. There is a corresponding increasing demand for cost-effective on-line testing techniques. These needs have increased dramatically with the introduction of very deep submicron and nanometer technologies which adversely impact noise margins, process, voltage and temperature variations, aging and wearout and make integrating on-line testing and fault tolerance mandatory in many modern ICs. The International On-Line Testing Symposium (IOLTS) is an established forum for presenting novel ideas and experimental data on these areas. The symposium also emphasizes on-line testing in the continuous operation of large applications such as wired, cellular and satellite telecommunication, as well as in secure chips. The Symposium is sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Council and organized by University of Athens and TIMA Laboratory.

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Workshop on Design for Reliability and Variability

DRV
Venue: Dana Point, CA, UNITED STATES
Date: May 4-5, 2011
Organizer: M. NICOLAIDIS
Co-organizer: Y. ZORIAN

Summary: As silicon based CMOS technologies are fast approaching their ultimate limits, reliability is threatened by issues such as process, voltage and temperature variability, accelerated aging and wearout, radiation induced soft-errors and cross talk. In particular, variability of process, voltage and temperature represent a significant threat not only for parametric yield but also for reliability, since they induce timing faults that are extremely difficult to detect during manufacturing testing. It results on increasing ratio of circuits passing fabrication test that are susceptible to manifest failures in the field. These problems are creating barriers to further technology scaling and are forcing the introduction of new process, design and test solutions aimed at maintaining acceptable levels of reliability. As elimination of these issues is becoming increasingly difficult, various design techniques are emerging to circumvent them. These techniques may incur area, power, yield or performance penalties. Thus, to enable their adoption by the industry there is need for novel solutions to minimize penalties and provide automation tools. The goal of this workshop is to create an informal forum to discuss those design, EDA and test innovations enabling chips to maintain acceptable reliability levels at reasonable cost. The workshop is sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Council.

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Attend TIMA demonstrations at DATE'11 University Booth

DATE
Date: March 15-17, 2011

Summary:

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DATE'11 University Booth

DATE
Venue: Alpexpo Alpes Congrès, Grenoble, FRANCE
Date: March 15-17, 2011
Organizer: L. ANGHEL

Summary: Please, click here: DATE University Booth

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Journées Scientifiques SEmba 2010

SEmba
Venue: Escandille, Autrans, FRANCE
Date: 18 et 19 Octobre 2010
Organizer: Rachid ECHAHED

Summary: Les systèmes embarqués sont des systèmes intégrant du logiciel et du matériel conçus pour fournir ensemble des fonctionnalités données. Ces composants peuvent être utilisés dans différents types d'applications, comme le transport (avionique, espace, automobile, ferroviaire), les appareils électriques et électroniques (appareils photo, jouets, postes de télévision, lave-linges, systèmes audio, téléphones portables), la distribution d'énergie, l'automatisation, etc. Leur utilisation étendue aux produits grand public courants, est une évolution majeure pour les technologies de l'information. Les systèmes embarqués sont d'une importance stratégique pour les économies modernes. Ils sont massivement utilisés dans des produits et services pour assurer de nouvelles fonctionnalités et de nouveau usages. Par ailleurs, produire un système embarqué, de qualité garantie à des coûts concurrentiels, soulève des problèmes scientifiques fondamentaux. Ceux-ci sont à l'origine d'une discipline émergente qui prend conjointement en compte les aspects matériels et logiciels. Le développement de cette discipline nécessite une étroite collaboration entre équipes de recherche qui relèvent traditionnellement de ces disciplines. Le projet présenté fédère une grande partie des activités des équipes de recherche publique de la région Rhône Alpes, dans le domaine des systèmes embarqués. Il est bâti sur les bases d'un projet qui fut une composante structurante du Pôle de Compétitivité Minalogic.

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Présentation du projet SoCKET (Minalogic, Aerospace Valley)

Venue: Minatec, Grenoble, FRANCE
Date: 14 et 15 Octobre 2010
Organizer: L. PIERRE

Summary: Le projet SoCKET (pôles de compétitivité Aerospace Valley et Minalogic) réunit des industriels des domaines de l'aéronautique, du spatial, des semi conducteurs, et des laboratoires de recherche publics pour adresser le problème des méthodologies de développement des systèmes embarqués critiques.
Ces journées de présentation démontreront les premiers résultats du projet.

  • Présentation du projet et de ses objectifs


  • Description des cas d'étude des partenaires industriels


  • Tutoriaux sur les méthodologies :
  •     - Modélisation des SoC's avec SystemC TLM
        - Synthèse de haut niveau
        - Vérification de bonne conception - Analyse de robustesse
        - Calcul de temps d'exécution maximum

  • Présentation du flot de conception préconisé, mise en œuvre sur les différents cas d'étude industriels


  • Les briques méthodologiques dans les cas d'étude.

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  • logo CNRS
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